Вы находитесь здесь: Основная - Рамановская спектроскопия - Система AFM-раман

Система AFM-раман

Содержание страницыРесурсыПозвонить в местное представительство Связаться с нами онлайн

Углубление представлений о структурах в нанодиапазоне

Raman and AFM images of a 60nm diameter silicon nanowire Комбинированные AFM-раман приборы (называемые также SPM-раман) - это устройства, в которых используются методы рамановской спектроскопии и атомно-силовой спектроскопии. Они позволяют выполнять более детальный анализ образцов на базе изучения структуры и химических свойств материалов в субмикрометровом диапазоне.

Компания Renishaw разработала оптимизированный метод прямой связи, позволивший объединить рамановский микроскоп inVia с обширной гаммой сканирующих зондовых микроскопов (Scanning probe microscopes - SPM, СЗМ). Такие системы дают возможность работать с использованием методов TERS (Tip Enhanced Raman Spectroscopy), ближнепольной микроскопии (SNOM, NSOM) и раман-AFM.

Рамановский микроскоп inVia дает неограниченные возможности объединения с любой SPM- или AFM-системой, с созданием полностью интегрированных установок, включающих сканеры компаний NT-MDT и Nanonics Imaging Ltd.

Научные и промышленные системы анализа и визуализации изображений в нанодиапазоне

  • Измерение физических характеристик с разрешением на уровне размера молекул и химический анализ в субмикрометровом диапазоне
  • Одновременное исследование с применением методов AFM и рамановской спектроскопии позволяет сразу выполнять сопоставление изображений
  • Единая базовая система обеспечивает достоверность результатов, надежность и удобство в эксплуатации

Достижение максимальной производительности

NT-MDT and Nanonics logos Только компания Renishaw предлагает системы, полностью интегрированные со сканерами компаний NT-MDT и Nanonics Imaging Ltd. Преимущества системы раман-AFM компании Renishaw:

  • Более эффективное использование времени благодаря интегрированной системе: работа механических узлов и программного обеспечения выполняется в согласованном комплексе, что позволяет сосредоточиться исключительно на сборе данных и их анализе
  • Ускорение сбора данных: прямая связь между образцом и рамановским спектрометром обеспечивает оптимальную производительность в любой конфигурации
  • Опыт ведущих экспертов: первые измерения полупроводников с использованием метода TERS (публикация 2001 года) и метода раман-AFM/NSOM (публикация 1995 года) были проведены именно на рамановских системах компании Renishaw
  • Возможность выбора: компания Renishaw обладает нужным опытом и знаниями для создания комплексных приборов с выбранной пользователем SPM-системой

Чем полезна система раман-SPM компании Renishaw?

Raman image of multi-layered graphene sampleAFM-микроскопия с рамановской спектроскопией
 Это означает получение данных высокого разрешения при сканировании зондом вместе с данными рамановской спектроскопии в дальней зоне (обычно с субмикрометровым разрешением). Данные рамановской спектроскопии могут регистрироваться и сопоставляться с данными высокого пространственного разрешения, относящимися к топографическим, электрическим, термическим свойствам и с данными оптической микроскопии ближнего поля.

В случае образца неохарактеризованного графена анализ методом рамановской спектроскопии (см. изображение справа) позволил выделить пять различных толщин графена, в том числе монослойный и двухслойный участки. Данные рамановской спектроскопии были использованы для выбора стратегии проведения экспериментов на сканирующих зондовых микроскопах: измерение топографических характеристик, емкости и проводимости материала выполнялось уже на конкретных участках.

Tip-enhanced Raman spectrum of strained Si on SiGe TERS (или безапертурная сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля и рамановская спектроскопия)
Внутри зоны, освещаемой лазерным излучением, используется наконечник для усиления сигнала комбинационного рассеяния на очень малом локальном участке образца. Такая конфигурация обеспечивает максимальное пространственное разрешение любого метода с использованием рамановской спектроскопии.

Исключительно высокую пространственную чувствительность, достигаемую благодаря методу TERS, можно продемонстрировать на слоистых материалах. На рисунке рядом приведены для сравнения спектры в ближней (TERS) и дальней зоне тонкого слоя кремния на подложке SiGe. Более высокая чувствительность при анализе поверхности, обеспечиваемая методом TERS, дает в спектре более интенсивную рамановскую полосу кремния (при более низкой рамановской частоте по сравнению с рамановской полосой SiGe от подложки).

Для получения более подробной информации о том, как эта технология может быть полезна для углубления исследований в нанодиапазоне, или о возможностях объединения любого SPM- или AFM-прибора с рамановским микроскопом inVia, заполните бланк запроса онлайн или обратитесь в местное представительство компании Renishaw по рамановским системам Связаться с местным представительством компании Renishaw по рамановским системамздесь.

Применение

Откройте для себя многообразный мир применения рамановских систем компании Renishaw

Newsletter

All the latest innovations in Raman spectroscopy - newsletter sign up here

Download past and present newsletters from our Newsletter archive

Следующий шаг

Свяжитесь с нами через Интернет для получения дополнительной информации или для отправки запроса о цене. Вы можете также поговорить напрямую с сотрудниками своего представительства Renishaw.