Сканирующие датчики
Широкий выбор датчиков позволяет найти подходящее решение для КИМ любой конструкции и размера. Сканирующие контактные измерительные системы
Принципы сканирования
В то время как обычными контактными датчиками измерения выполняются в отдельных точках поверхности детали, сканирующие системы позволяют измерять координаты огромного количества точек поверхности изделия, предоставляя подробную информацию о ее контуре и форме. Таким образом, сканирование является идеальным способом измерения в тех случаях, когда решающим фактором является отклонение детали от заданной формы, или когда нужно проверять точность изготовления деталей со сложным рельефом поверхности. Выполнение сканирования требует принципиально иного подхода к разработке конструкции датчика, системе управления КИМ и анализу данных. Сканирующие датчики производства Renishaw характеризуются использованием принципиально нового легкого исполнительного механизма пассивного типа (т.е. не имеют двигателей или механизмов блокировки), который отличается высокой собственной частотой и обеспечивает возможность применения таких датчиков для высокоскоростного сканирования. Независимые оптические измерительные системы измеряют отклонение щупа напрямую (составные оси внутри механизма срабатывания отсутствуют), что дает повышенную точность и быстроту динамического отклика датчика. Каким образом система сканирования производит измерения и обработку их результатов?Сканирующие датчики обеспечивают непрерывный выходной сигнал, несущий информацию об отклонении контактного щупа, который может быть сопоставлен с данными о координатах исполнительного элемента КИМ, чтобы определить местоположение поверхности сканируемой детали. В процессе сканирования наконечник контактного щупа приводится в соприкосновение с поверхностью детали, а затем движется вдоль ее поверхности, осуществляя в процессе этого движения сбор данных. При измерениях необходимо, чтобы отклонение щупа находилось в пределах диапазона измерений датчика. Для получения наилучших результатов требуется комплексная интеграция датчика и системы управления КИМ, а также сложная обработка и фильтрация данных, чтобы преобразовать непосредственные результаты измерений в информацию о 'слепке' поверхности, используемую на практике. Программы управления перемещением при сканировании позволяют перемещать датчик вдоль контуров детали, изменяя скорость сканирования с тем, чтобы она соответствовала степени кривизны поверхности изделия (увеличивая скорость перемещения вдоль плоских поверхностей), и подстраивая скорость считывания данных (производя большее количество измерений в тех местах, где рельеф поверхности меняется быстрее всего). Расширенная гарантияВ течение первых 3-х месяцев пользования новыми изделиями для КИМ можно приобрести 3-летнюю гарантию. Обращайтесь к своему поставщику. Следующий шагСвяжитесь с нами через Интернет для получения дополнительной информации или для отправки запроса о цене. Вы можете также поговорить напрямую с сотрудниками своего представительства Renishaw. |