 | Система Раман-СЭМ (SEM) Анализатор структуры и химического состава (SCA) компании Renishaw объединяет два признанных метода, сканирующую электронную микроскопию (СЭМ) и рамановскую спектроскопию. Такое сочетание обеспечивает уникальный мощный метод проведения различных видов анализа (морфологического, элементного, химического, физического и электронного) без перемещения образца на разные приборы.
Описания применения могут быть загружены в виде файлов PDF-формата (при запросе на загрузку требуется регистрация).
Примеры возможностей применения
- Морфология и средняя атомная масса
по данным СЭМ (методы SEI и BEI)
- Элементный состав
по данным анализа с использованием энерго-дисперсионного метода (EDS)
- Химический состав и идентификация
по данным рамановской спектроскопии
- Физическая структура
(кристаллографические и механические характеристики) по данным рамановской спектроскопии
- Электронная и физическая структуры
по данным катодолюминесцентной и фотолюминесцентной спектроскопии
Области применения
Примеры
- Материаловедение
исследование коррозии, материалы для электронных приборов, полимеры, композитные материалы
- Полупроводники
идентификация загрязняющих примесей
- Фармацевтика
идентификация покрытий, наполнителей, формообразующих; исследования полиморфизма
- Криминалистика
идентификация взрывчатых веществ, наркотиков, волокон, пигментов
Преимущества
- Одновременное использование сканирующей электронной микроскопии и рамановской спектроскопии
Сканирующий электронный микроскоп позволяет легко локализовать нужные детали. После этого, пользуясь средствами рамановской спектроскопии, можно быстро и точно идентифицировать такие элементы.
- EDS-спектры и изображения в белом свете, сделанные при одинаковом положении образца
EDS-спектры, карты и изображения в белом свете можно получать при одинаковом положении образца как изображение сканирующего электронного микроскопа и как рамановский спектр.
- Катодолюминесцентная (КЛ) и фотолюминесцентная (ФЛ) спектроскопия
Оптика для рамановской спектроскопии полностью подходит для КЛ- и ФЛ-спектроскопии. В КЛ-спектроскопии в качестве источника возбуждающего излучения используется лазер, в ФЛ-спектроскопии - электронный пучок. Каждый из этих методов позволяет получать информацию как об электронных, так и физических характеристиках образца. Метод КЛ-спектроскопии отличается особой чувствительностью к очень слабым изменениям состава и остаточной деформации.
|
