Пропустить переходы по меню

Обширный ассортимент

Компания Renishaw предлагает щупы, позволяющие решать самые разнообразные задачи; кроме того, эти щупы совместимы с датчиками компании Zeiss и датчиками, используемыми на КИМ FARO.

Применение щупов

Компания Renishaw предлагает обширный ассортимент щупов и принадлежностей для щупов, применяемых в ее сканирующих датчиках и датчиках, используемых на КИМ, станках и универсальных системах цифровых шаблонов Equator™.

Выбор щупов для сканирования

Выбор правильного щупа для сканирования деталей и преобразования данных измерений в цифровую форму на КИМ и станках имеет решающее значение.

Выбор надлежащего щупа для решения конкретной задачи

Выбор щупов для сканирования определяется типом задачи сканирования и типом используемого сканирующего датчика. Следует использовать щуп того же диаметра, который имел чистовой режущий инструмент, использованный при изготовлении детали.

Щуп должен быть максимально коротким, чтобы предотвратить избыточный изгиб, но при этом надо следить за тем, чтобы он был достаточно длинным для того, чтобы избежать сканирования с хвостовиком.

Правила, учитываемые при решении конкретных задач

При проведении точечных измерений шарик контактирует с поверхностью компонента в течение очень короткого промежутка времени. При сканировании ситуация отличается, поскольку шарик скользит по поверхности детали. Поскольку контакт непрерывный, то имеет место длительный скользящий контакт между шариком щупа и поверхностью заготовки.

Компания Renishaw выполнила обширную исследовательскую программу для изучения взаимодействия между материалами шарика и поверхностью заготовок. Все испытания материалов шарика показали, что эти материалы оседают на поверхности шариков. Между проверками рекомендуется протирать шарики сухой салфеткой без ворса для полного удаления следов материала.

Абразивный износ (сканирование абразивных материалов)

Например, при проведении измерений компонентов, изготовленных из чугуна, и шарик щупа и поверхность обрабатываемой детали могут подвергнуться абразивному износу. Мельчайшие осаждающиеся частицы могут стать причиной мелких царапин на шарике щупа и на поверхности обрабатываемой детали. Для этого типа задач рекомендуется использовать шарики щупов, изготовленные из двуокиси циркония с целью сведения к минимуму такого воздействия.

Адгезионный износ (сканирование алюминиевых деталей)

При использовании шарика из синтетического рубина для сканирования поверхности из алюминия эти два материала притягиваются друг к другу. Как правило, материал переносится с более мягкой поверхности на более твердую поверхность. Это означает, что алюминий осаждается на поверхности шарика, и покрытие из алюминия хорошо видно уже после 100 м непрерывных измерений с использованием единичного пятна контакта на шарике щупа. Рекомендуется для таких задач использовать щупы с шариковыми наконечниками, изготовленными из нитрида кремния. Этот материал отталкивает алюминий, поэтому эффект оседания редко имеет место.

.