Пропустить переходы по меню

Комбинированные / гибридные рамановские системы

Расширение аналитических возможностей вашей системы inVia за счёт сочетания с другими аналитическими системами различных производителей.

Для обеспечения максимальной эффективности вы можете выполнять анализ образца двумя или более методами без необходимости перемещения его между приборами. Используя системы коррелятивной микроскопии компании Renishaw, вы можете быть уверены в том, что анализ одной и той же точки выполняется двумя методами.

SPM/AFM: Нанометровое разрешение

Объединение микроскопа inVia и микроскопа со сканирующим датчиком (SPM), например атомно-силовым микроскопом (AFM), для исследования химических и структурных свойств материалов. Добавьте нанометровую шкалу для химического разрешения с TERS, и получите дополнительную информацию, такую как механические свойства.

SEM: изображения с большим увеличением и элементарный анализ

Объедините возможности рамановского микроскопа inVia и сканирующего электронного микроскопа с помощью рамановского интерфейса SEM-SCA компании Renishaw. Используйте SEM для записи изображений ваших образцов с большим увеличением и выполняйте элементный анализ, используя рентгеновское излучение. Добавьте возможности рамановской спектроскопии для идентификации материалов и неметаллических соединений, даже если они имеют одинаковую стехиометрию.

Наноиндентирование: измерение механических свойств

Выполните измерения, чтобы напрямую увязать на месте измерение механических свойств, полученных методом индентирования, с комплексным химическим анализом, полученным с помощью рамановской спектроскопии.

CLSM: конфокальные изображения

При наличии образцов со сложными трёхмерными структурами (например, биологических клеток), вы можете добавить конфокальный лазерный сканирующий микроскоп (CLSM) к микроскопу inVia и увязать конфокальные флуоресцентные изображения с рамановскими химическими изображениями.

Сочетайте для увеличения возможностей

Методы корреляционной визуализации могут предоставить уникальную информацию, которая скрыта в других случаях. Для получения сведений относительно возможности сочетания inVia с другими аналитическими системами обращайтесь в нашу компанию.

Подробнее

Прочтите статью из журнала "Микроскопия и анализ"

Нижеследующая статья была опубликована в апреле 2015 года и воспроизводится с разрешения журнала «Микроскопия и анализ» (Уайли).

Читать статью