Рамановский конфокальный микроскоп inVia™ InSpect
Наш самый продаваемый конфокальный рамановский микроскоп станет оптимальным решением для проведения анализа следов в криминалистических лабораториях.
Определяйте материалы, что может быть затруднительным или кропотливым при использовании других методов, такие как твердые кристаллические порошки, керамические осколки и стеклянная крошка, для которых можно провести анализ с незначительной подготовкой или вообще без таковой.
Отличительные характеристики
Возможности микроскопа inVia InSpect:
- Высокоспециализированная идентификация — рамановская микроскопия позволяет различать химическое строение даже близкородственных веществ.
- Высокое пространственное разрешение — сопоставимо с другими методами микроскопии.
- Ряд методов контрастной микроскопии — включая контраст светлого и темного поля, контраст поляризации с освещением отраженным и проходящим светом
- Анализ частиц — используйте передовые алгоритмы распознавания изображений и функции управления приборами для определения характеристик распределения частиц
- Корреляционная визуализация — создание составных изображений путем объединения рамановских данных с изображениями, полученными другими методами микроскопии.
Для получения более подробной информации скачайте брошюру о микроскопе inVia InSpect.
Empty Modelling™
ПО Empty Modelling использует методы многоэлементного анализа для разложения сложных данных на составляющие. Используйте его вместе с поиском по библиотеке для анализа данных с образцов, которые содержат неизвестные материалы.
Технология визуализации StreamHR™
Технология визуализации StreamHR согласует работу высокоэффективного детектора микроскопов InSpect и предметного столика MS30. Это решение повышает скорость сбора данных и экономит ваше время на формировании изображений.
Полная автоматизация
Вы можете управлять юстировкой, калибровкой и конфигурированием при помощи программного обеспечения WiRE от Renishaw. Например, вы можете одним щелчком кнопки быстро переключиться с просмотра образца на рамановский анализ.
Области применения
Следы продуктов выстрела
Микроскоп inVia InSpect является комплексным решением для выполнения анализа следов продуктов выстрела независимо от их происхождения, включая выявление и идентификацию органических и неорганических компонентов. В этой статье мы рассмотрим некоторые основные характеристики рамановской системы и преимущества ее использования для анализа СПВ.
Подделка документов
Существует большое количество разных красок — их цвет может совпадать, но по химическому составу они отличаются. Рамановский анализ с помощью микроскопа inVia Raman — это быстрый неразрушающий метод исследования материалов, подлинность которых вызывает сомнения, позволяющий определить, являются ли идентичными одинаковые по виду чернила.
Удержание фокуса в режиме реального
времени с помощью LiveTrack
Микроскоп inVia InSpect использует технологию автоматического удержания объекта в фокусе LiveTrack™ для получения в режиме реального времени точных воспроизводимых спектров и типографии образцов, значительно отличающихся по высоте. Вы можете создавать высококачественные 3D-изображения неровных, криволинейных или шероховатых поверхностей без предварительного сканирования. Посмотрите видео с примером.
Хотите узнать больше?
Ваш местный представитель будет рад помочь с Вашим запросом.
Вы можете связаться с ним, заполнив форму или отправив письмо.
Получите последние новости
Будьте в курсе наших последних инноваций, новостей, приложений и выпусков продуктов и получайте обновления прямо на свой почтовый ящик.
Материалы для скачивания: Рамановский микроскоп inVia InSpect
-
Брошюра: Рамановский конфокальный микроскоп inVia™ InSpect
Прекрасное дополнение к средствам следового анализа вашей криминалистической лаборатории
-
Рекомендации по применению: Анализ следов продуктов выстрела с помощью inVia™ InSpect
-
Analysing paint samples with the inVia InSpect Raman microscope [en]
This application note explores some of the key features that make Raman spectroscopy so powerful for paint analysis, as part of the forensic microscopist’s trace analysis suite.
-
Data sheet: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The Renishaw inVia InSpect confocal Raman microscope has been optimised for use in forensic laboratories for trace analysis.
Технические характеристики
Параметр | Значение | |
| Диапазон длины волны | От 200 нм до 2200 нм | |
| Поддерживаемые лазеры | От 229 нм до 1064 нм | |
| Спектральное разрешение | 0,3 см-1 (FWHM) | Используемое максимальное разрешение: 1 см–1 |
| Стабильность | < ±0,01 см–1 | Изменение центральной частоты аппроксимированной полосы Si 520 см-1 по результатам повторных измерений. Обеспечивается с использованием спектрального разрешения 1 см-1 или выше |
| Нижнее предельное значение волнового числа | 5 см–1 | Используемое максимальное значение: 100 см–1 |
| Верхнее предельное значение волнового числа | 30 000 см–1 | Стандартное значение: 4 000 см–1 |
| Пространственное разрешение (поперечное) | 0,25 мкм | Стандартное значение: 1 мкм |
| Пространственное разрешение (осевое) | < 1 мкм | Стандартное значение: < 2 мкм В зависимости от объектива и лазера |
| Размер детектора (стандарт) | 1024 пикселя × 256 пикселей | Другие опции |
| Рабочая температура детектора | –70 °C | |
| Поддерживаемые фильтры Рэлея | Без ограничений | До четырех фильтров в автоматизированном креплении. Неограниченное количество дополнительных фильтров в переключаемых пользователем кинематических креплениях с точным позиционированием. |
| Количество поддерживаемых лазеров | Без ограничений | Один в стандартной комплектации. Для использования более 4 дополнительных лазеров требуется оптический стол |
| Управление с ПК с системой Windows | ПК с ОС Windows® в соответствии с последней спецификацией | Включает рабочую станцию на базе ПК, монитор, клавиатуру и трекбол |
| Напряжение питания | От 110 В перем. тока до 240 В перем. тока +10 % –15 % | |
| Частота питающей сети | 50 или 60 Гц | |
| Стандартно потребляемая мощность (спектрометр) | 150 Вт | |
| Глубина (системы с двумя лазерами) | 930 мм | Опорная плита для двух лазеров |
| Глубина (системы с тремя лазерами) | 1116 мм | Опорная плита для трех лазеров |
| Глубина (компактные системы) | 610 мм | До трех лазеров (в зависимости от типа лазера) |
| Стандартная масса (без лазеров) | 90 кг |