Пропустить переходы по меню

Сочетание рамановской-SPM/AFM систем

Можно объединить возможности inVia и микроскопа со сканирующим зондом (SPM и AFM) для изучения состава, структуры и свойств материалов в нанометровом масштабе.

Выберите самую лучшую систему

inVia невероятно универсален; Renishaw может подключить его непосредственно к большому семейству SPM и AFM от таких производителей, как:

  • Bruker Nano Surfaces
  • Nanonics
  • NT-MDT
  • JPK
  • Park
  • Nanosurf

Выберите лучший SPM/AFM для ваших нужд.

TERS: комбинационное рассеяние, усиленное наконечником

Выбранные системы inVia-AFM могут выполнять комбинационное рассеяние, усиленное кантилевером (TERS). Этот метод использует острый плазмонный наконечник для получения информации о химических веществах в нанометровом масштабе.

Отображение с помощью TERS дополняет технологии StreamLine™ и StreamHR™, одновременно обеспечивая гибкость в исследовании образцов с любым желаемым разрешением.

Максимальная эффективность

Специально разработанный гибкий интерфейс Renishaw можно использовать для оптической интеграции inVia с SPM/AFM. В нем используются зеркала для направления света, обеспечивая более высокую эффективность, чем волоконно-оптическая связь. Можно получить спектры быстрее и с более высоким соотношением сигнал-шум.

Простое выполнение юстировки. Все комбинированные системы предлагают встроенное видео с освещением белым светом, так что можно четко увидеть и наконечник зонда, и лазерное пятно комбинационного рассеяния вместе, что является важным для использования TERS .

То же место, то же самое время

Уверенность в данных Можно одновременно выполнять сбор данных рамановским прибором и атомно-силовым микроскопом (AFM)в одной и той же точке на образце без необходимости перемещаться. Это гарантирует согласованность данных, даже если образец меняется со временем.

Одна комплексная система

Анализ является колокализованным; нет необходимости перемещать образец между системами, а затем кропотливо охотиться, чтобы найти ту же самую интересующую точку.

Два пользователя могут работать с inVia и SPM/AFM независимо друг от друга и одновременно, без каких-либо компромиссов в производительности любого из них. Вы располагаете рамановской системой, системой SPM/AFM и сочетанием этих двух систем.

Выбор лучшей системы

Эксперты по SPM компании Renishaw будут рады обсудить ваши конкретные требования и рекомендовать наилучший способ интеграции inVia с выбранной вами системой SPM/AFM. Свяжитесь с нами, и узнайте, как эта технология может расширить ваше понимание на наноуровне.

Материалы для скачивания: Сочетания рамановских систем с SPM/AFM

Фотогалерея

Подробнее

Свежие истории от пользователей SPM/AFM

Научно-исследовательская лаборатория армии США использует сочетание систем рамановской и атомно-силового микроскопа

Научно-исследовательская лаборатория армии США (ARL) в штате Мэриленд, США, изучает материалы накопителей электрохимической энергии с помощью гибридного прибора, состоящего из конфокального рамановского микроскопа inVia Renishaw и атомно-силового микроскопа Bruker Dimension Icon (AFM).

Конфокальный рамановский микроскоп inVia Renishaw подключается к атомно-силовому микроскопу компании Bruker Dimension Icon

Renishaw является опытным поставщиком решений по объединению рамановской системы с атомно-силовым микроскопом, которые предлагает уже более 16 лет. Последним дополнением к семейству поддерживаемых приборов стал атомно-силовой микроскоп компании Bruker Dimension Icon. Это дополнительное сопряжение демонстрирует крайнюю гибкость конфокального микроскопа inVia Renishaw, а также его способность взаимодействовать с широким спектром приборов, использующим множество аналитических методов.