Пропустить переходы по меню

Ренишоу объявляет выпуск новых изделий на выставке EMO Hannover 2011

Компания Ренишоу, мировой лидер в области инженерных технологий, объявляет о выпуске новых изделий, которые будут демонстрироваться на выставке ЕМО в городе Ганновере (Германия) с 19 по 24 сентября.

8 Августа 2011 г.

Логотип EMO 2011

Компания Ренишоу, мировой лидер в области инженерных технологий, объявляет о выпуске новых изделий, которые будут демонстрироваться на выставке ЕМО в городе Ганновере (Германия) с 19 по 24 сентября. Новинки включают в себя контактные датчики и программные продукты, которые помогают улучшить контроль процессов обработки на станках с ЧПУ, а также новый датчик шероховатости поверхности для координатно-измерительных машин (КИМ).

Эти системы будут представлены наряду с уже предлагаемыми новыми разработками - альтернативой специализированным механическим компараторам, новыми технологиями в области изготовления деталей с помощью селективного нанесения материала, пяти-осными измерительными системами для КИМ.

Новая версия пакета измерительных циклов (на базе персонального компьютера) для обрабатывающих центров
Генерация линия с использованием опции "Constructed Line" на объемной модели Посетителям EMO 2011 представят Productivity+™. Это оригинальное программное обеспечение для интеграции измерений и контроля над процессом обработки в станки с ЧПУ. Помимо прочих преимуществ , Productivity+ позволяет автоматически вставлять измерительные циклы в программы обработки деталей с выбором измеряемых артефактов непосредственно на импортированных матмоделях с использованием типового интерактивного графического интерфейса САПР.

Уже являясь самым мощным средством для измерений на станках с ЧПУ, последняя версия Productivity+ 1.90 выходит осенью 2011 года и будет включать в себя дополнительные элементы Constructed Statements и Custom Macro, а также более совершенные возможности для многокоординатных измерений и отчетности по измерениям.

Новый датчик для полностью автоматизированного контроля на КИМ шероховатости поверхности
Датчик системы REVO® для контроля шероховатости поверхности Компания Ренишоу разработала новый щуп для пяти-осной измерительной сканирующей системы REVO®, который впервые позволяет интегрировать измерения шероховатости поверхностей в стандартные процедуры КИМ. Диапазон измерений шероховатости составляет от 0.05 до 6.3 микрометров Ra. Новый щуп SFP1 устраняет необходимость как в портативных измерителях, так и в дорогостоящих специализированных приборах для измерения шероховатости, тем самым снижая затраты времени и труда на измерения. Посетителям выставки EMO Hannover продемонстрируют, как при измерениях на КИМ переключатся между измерениями формы и измерениями шероховатости поверхностей с последующим выводом результатов измерений в единый отчет.

Renishaw на выставке EMO 2011 в Ганновере

Ресурсы

Авторские права на все иллюстрации и текст принадлежат компании Renishaw

Получение последних новостей

Подпишитесь на самые последние новости от Renishaw