Пропустить переходы по меню

Система SEM-раман

Система SEM-раман позволяет всесторонне охарактеризовать образец на месте с помощью одной системы. Пересмотрите своё понимание удобства, эффективности и производительности путем объединения этих двух технологий.

Подключение структурного и химического анализатора Renishaw (SCA) привносит возможности рамановского точечного измерения и отображения inVia в сканирующий электронный микроскоп (SEM).

Рамановская система + SEM

Объединение inVia и SCA обеспечивают аналитическую методику, присущую SEM, таким образом дополняя спектроскопию комбинационного рассеяния света на базе оптического микроскопа и преодолевая ограничения спектроскопии с помощью энергодисперсионного рентгеновского излучения (EDS), являющейся традиционной аналитической методикой SEM. С помощью системы SEM-рамановская Renishaw вы будете пользоваться преимуществами совмещенного морфологического, элементного, химического, физического и электронного анализа.

Используйте сканирующий электронный микроскоп для получения изображений вашего образца с высоким разрешением и выполнения элементного анализа. Добавьте мощность рамановской системы для получения информации о химических характеристиках образцов и получения спектрохимических изображений. Определите материалы и неметаллические соединения, даже если они имеют одинаковую стехиометрию.

SCA и inVia полностью совместимы не только с рамановской спектроскопией, но и исследованиями с помощью фотолюминесценции (PL) и катодолюминесценции (CL).

Одна комбинированная система для совмещенного анализа

С одной комбинированной системой вы экономите драгоценное время. Таким образом нет необходимости перемещать образцы между двумя приборами с риском проанализировать неправильную область образца.

Оба прибора: inVia и SEM могут работать в качестве автономных систем, в то же время не ухудшая характеристик любого из них. Вы располагаете рамановской системой, системой SEM и сочетанием этих двух систем.

Система получения изображений SEM-раман

Вы можете определять пространственные вариации при напряжении/деформации, а также характеристики дефектов, используя дополнительную систему SEM-SCA на этапе получения изображений с помощью системы SEM. Благодаря этому вы сможете получать изображения, показывающие молекулярные и кристаллические свойства сложных материалов.

Одно и то же место, то же самое время

Можно одновременно выполнять сбор данных рамановским прибором и сканирующим электронным микроскопом (SEM) в одной и той же точке на образце без необходимости перемещать его. Благодаря этому анализ выполняется быстро, а ваши данные являются репрезентативными.

Выберите самую лучшую систему

К существующим SEM можно добавить интерфейс SCA компании Renishaw. Он установлен на порт, поэтому какая-либо модификация SEM не требуется. SCA устанавливался на сканирующие электронные микроскопы всех основных производителей, в том числе:

  • Zeiss
  • Thermo Fisher Scientific (FEI)
  • TESCAN
  • JEOL
  • Hitachi

Подробнее

Материалы для скачивания: Система SEM-раман

  • Product note:  Co-located SEM-Raman imaging system Product note: Co-located SEM-Raman imaging system [en]

    Renishaw’s SEM-Raman system provides truly co-located analysis Renishaw’s SEM-Raman system is unique. You can simultaneously acquire both SEM (scanning electron microscope) and Raman data from the same area on the sample. You do not have to transfer the sample to a different measurement location or instrument; this ensures rapid truly correlative analysis. You will avoid the sample registration issues that can occur when moving samples between measurement locations.

    [407kB]
  • Product note:  SCA - diamond composite analysis Product note: SCA - diamond composite analysis [en]

    Renishaw’s structural and chemical analyser unites two well-established technologies, scanning electron microscopy (SEM) and Raman spectroscopy, resulting in a powerful new technique which allows morphological, elemental, chemical, physical, and electronic analysis without moving the sample between instruments.

    [138kB]
  • Application note:  A study of single-wall carbon nanotubes using Renishaw's structural and chemical analyser for scanning electron microscopy Application note: A study of single-wall carbon nanotubes using Renishaw's structural and chemical analyser for scanning electron microscopy [en]

    Electron imaging and Raman spectroscopy are established techniques for viewing and analysing carbon nanotubes. Performing these two techniques usually requires the sample being transferred between a scanning electron microscope (SEM) and a Raman spectrometer. This application note illustrates the advantages of Renishaw’s structural and chemical analyser (SCA) for simultaneous secondary electron imaging and Raman spectroscopy of single-wall carbon nanotubes (SWNTs).

    [357kB]
  • Application note:  SCA oxidation application note - cultural heritage Application note: SCA oxidation application note - cultural heritage [en]

    SEM-SCA analysis helps in the preservation of a corroding bronze statue of the Roman god Ares from the ancient city of Zeugma in Turkey.

    [354kB]

Выбор лучшей системы

Свяжитесь с экспертами по SEM компании Renishaw и обсудите ваши конкретные требования

Свежие истории от пользователей SEM


Геологи используют решение SEM-раман компании Renishaw для анализа наномира

Исследователи из Бюро геологических исследований (BRGM), расположенного в г. Орлеане, Франция, изучают физические, химические и структурные свойства минералов. Они используют разработанную компанией Renishaw систему SEM-раман для совмещённого анализа, которая позволяет всесторонне охарактеризовать образец на месте.

Сочетание рамановской спектроскопии и электронной микроскопии (SEM) для исследования неорганических и минеральных образцов в Геологическом институте Румынии, Бухарест.

В Геологическом институте Румынии используется интерфейс структурного и химического анализатора Renishaw (SCA) для объединения возможностей рамановского анализа конфокального рамановского микроскопа inVia™ и сканирующего электронного микроскопа (SEM).