Пропустить переходы по меню

Surface™ и FocusTrack™

Наклонный образец? Не проблема

Благодаря функциональной возможности Surface Renishaw, вы можете собрать данные комбинационного рассеяния с поверхности образца, даже если она наклонная. Вы вручную определите форму поверхности образца перед сбором данных комбинационного рассеяния и, по мере перемещения образца и сбора данных, inVia удерживает образец в фокусе.

Удерживать образец в фокусе

Функция FocusTrack периодически проверяет и настраивает фокус образца между получением данных; эту функцию можно использовать для измерений в одной точки, серии время/температура и точечного отображения. Она сканирует по предварительно заданному вертикальному диапазону и находит оптимальную фокусировку. Таким образом ограничиваются отклонения фокуса, гарантируя получение данных с оптимальным пространственным разрешением и пропускной способностью.

Многие аспекты инновационной технологии компании Renishaw защищены патентами.